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更新時間：2025-11-26 
瀏覽次數(shù)：85在半導(dǎo)體晶圓、液晶面板等高的端精密制造領(lǐng)域，產(chǎn)品表面的微觀質(zhì)量直接關(guān)系到最終產(chǎn)品的性能與良率。因此，對表面進行超精密檢測，識別出微米甚至亞微米級別的缺陷，成為生產(chǎn)過程中不的可的或的缺的環(huán)節(jié)。日本山田光學(xué)推出的YP-150I和YP-250I高亮度鹵素光源裝置，正是為滿足此類嚴苛的表面檢查需求而設(shè)計的專用照明設(shè)備。
YP-150I和YP-250I是主要用于顯微觀察的照明裝置。其核心應(yīng)用是檢測各類高光潔度成品表面的微小缺陷，例如：
表面附著異物
細微劃痕
拋光不均勻
霧度
滑移線
這些缺陷在普通光照下難以察覺，但在特定角度和高亮度、高均勻性的光照下會顯現(xiàn)出來。該系列裝置通過提供高強度且穩(wěn)定的照明，成為半導(dǎo)體加工、液晶面板制造等過程中進行質(zhì)量控制的有效工具。
該系列產(chǎn)品具備多項旨在提升檢測精度與穩(wěn)定性的技術(shù)特點。
1. 高照度與均勻照明
兩款裝置均能提供超過400,000勒克斯的樣品表面照度。如此高的照度是發(fā)現(xiàn)極其微小缺陷（資料提及可檢測小于0.2微米的缺陷）的基礎(chǔ)。同時，它們采用鹵素燈作為光源，具備較高的色溫，這使得照明光線不僅明亮，而且不均勻的情況較少，光斑穩(wěn)定銳利，有助于檢測人員獲得清晰、一致的觀察效果。
2. 有效的熱管理
在提供高亮度光照的同時，鹵素燈會產(chǎn)生大量熱能，而過熱可能影響精密樣品或檢測設(shè)備。該系列產(chǎn)品通過采用冷鏡技術(shù)，將熱量對觀察過程的影響降至傳統(tǒng)鋁鏡反射方式的三分之一，為長時間穩(wěn)定觀察創(chuàng)造了條件。
3. 便捷的操作設(shè)計
裝置配備了高照度觀察與低照度觀察的一鍵切換功能。這一設(shè)計方便檢測人員根據(jù)不同的檢測需求或樣品特性，快速調(diào)整照明強度，無需中斷觀察流程，提升了檢測效率。
4. 型號區(qū)分與選擇
YP-150I和YP-250I作為姊妹機型，在具體應(yīng)用上有所區(qū)分。
YP-150I：其照明范圍直徑為30毫米，更適用于較小尺寸樣品的精密檢測。
YP-250I：其照明范圍直徑為60毫米，能夠覆蓋更大的面積，資料中特別提到可用于8英寸晶圓的檢測。此外，YP-250I提供了螺旋槳風(fēng)機型和管道風(fēng)機型兩種散熱配置，用戶可以根據(jù)實際安裝環(huán)境與應(yīng)用場景進行選擇。
山田光學(xué)的YP-150I和YP-250I高亮度鹵素光源裝置，通過高照度鹵素燈光源、有效的熱管理以及人性化的操作設(shè)計，為半導(dǎo)體和液晶面板等行業(yè)的高精度表面缺陷檢測提供了專業(yè)的照明解決方案。YP-150I側(cè)重于小范圍超精密檢測，而YP-250I則擴展了照明面積并提供了更靈活的散熱選項，兩者共同滿足了不同場景下對穩(wěn)定、清晰照明環(huán)境的需求。該系列裝置的存在，體現(xiàn)了專用照明設(shè)備在現(xiàn)代化精密制造質(zhì)量控制環(huán)節(jié)中的重要性。
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