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更新時間：2024-05-24 
瀏覽次數(shù)：556適用于D，F(xiàn)，G，J，K級，晶片，晶圓，引腳型電阻的區(qū)分機(jī)，編帶機(jī)的電阻檢測計
AE·MIC AEMIC CORPORATION驚 異的超高速．高精度 數(shù)位 電阻檢測計
AE-162D 超高速高精度數(shù)位電阻檢測計
最的適合用于：D，F(xiàn)，G，J，K級，晶片，晶圓，引腳型電阻的區(qū)分機(jī)，編帶機(jī)
超高速：0.7msec(代表值)
消除熱電動勢的測量影響．達(dá)到高精度高穩(wěn)定度
邏輯電路與數(shù)字電路隔離絕緣，通過耐雜訊提高高穩(wěn)定度
每范圍通過測量值積分時間設(shè)定功能，達(dá)到超高速高穩(wěn)定測量■絕對值測量：0.00mΩ～200.00MΩ%測量：5mΩ～109MΩ[±99.99%]
接觸·檢查選擇：測量前/測量后/OFF (不接觸)
RS-232C介面為標(biāo)準(zhǔn)配備[可選購GP-IB ]
印表機(jī)輸出為標(biāo)準(zhǔn)配備（符合Centronics）
設(shè)定數(shù)據(jù)傳送功能為標(biāo)準(zhǔn)配備(可把一臺機(jī)的設(shè)定數(shù)據(jù)發(fā)到另一臺機(jī)上)
檢查測量電流/電壓是否異常的電路為標(biāo)準(zhǔn)配備
選購
GP -I B介面/電磁電源DC 24V / 1A/數(shù)據(jù)傳輸線
規(guī)格&參數(shù)
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測量範(fàn)圍及基本精度(at23℃ ± 5℃)，校正後1年
量程 | 標(biāo)準(zhǔn)值設(shè)定範(fàn)圍 | 測量電流 | 測量精度 | |
SLOW | FAST | |||
100mΩ | 5mΩ～100mΩ | 100mA | ±0.02% ± 2α ± 2d以內(nèi) | ±0.03% ± 3α ± 2d ± [ 2/(1+n) ]d以內(nèi) |
1Ω | 100.1mΩ～1Ω | 100mA | ±0.02% ± α ± 1d以內(nèi) | ±0.02% ± α ± 2d ± [ 2/(1+n) ]d以內(nèi) |
10Ω | 1.001Ω～10Ω | 50mA | ||
100Ω | 10.01Ω～100Ω | 10mA | ±0.02% ± 1d以內(nèi) | ±0.02% ± 2d ± [ 1/(1+n) ]d以內(nèi) |
1kΩ | 100.1Ω～1kΩ | 5mA | ||
10kΩ | 1.001kΩ～10kΩ | 0.5mA | ||
100kΩ | 10.01kΩ～100kΩ | 50μA | ||
1MΩ | 100.1kΩ～1MΩ | 5μA | ±0.05% ± 2d ± [ 1/(1+n) ]d以內(nèi) | |
10MΩ | 1.001MΩ～10MΩ | 0.5μA | ±0.03% ± 1d以內(nèi) | ±0.2% ± 4d ± [ 1/(1+n) ]d以內(nèi) |
100MΩ | 10.01MΩ～109MΩ | 0.05μA | ±0.1% ± 2d以內(nèi) | ---- |
d：digits，n：積分時間(msec.)百分比測量時：α=(100 /標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定值mΩ) × 0.01％
對值測量時：α= 0 (±1d)[ FAST ]測試時精度需要測試線完的全的屏蔽
測試 時間 | 外部觸發(fā) | 空運(yùn)行 | ||
SLOW | FAST | SLOW | FAST | |
約18msec～400msec | 約0.7msec.~400 msec. | 約30次/秒~ 2次/秒 | 約60次/秒~ 2次/秒 | |
測量結(jié)束信號(EOC)脈衝寬度 | 1～250msec.能連續(xù)設(shè)定 |
測量方式 | 4端子/ 2端子 測量轉(zhuǎn)換 |
判斷值設(shè)定範(fàn)圍 | %測量:±99.99% |
使用周圍環(huán)境 | 溫度：0℃～+50℃，濕度：80％以下 |
所要電源 | AC85V～265V，50～60Hz，約50VA |
外形尺寸 | 約333(W)×99(H)×300(D)mm (不含有橡膠腳等的突起物。) |
重量 | 約3.8kg |
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